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低溫紅外鏡頭星點(diǎn)檢測數(shù)據(jù)處理方法研究
在實(shí)驗(yàn)室模擬低溫真空環(huán)境對紅外鏡頭進(jìn)行星點(diǎn)檢測時,不能在像面處直接測得星點(diǎn)光源的像,而是通過在焦面處放置反射鏡使系統(tǒng)二次成像的方法測得二次成像的彌散斑大小.二次像斑尺寸的變化將能反映出由溫度變化引起的被測鏡頭焦面處像斑尺寸的變化.通過理論推導(dǎo)得出一次像與二次像彌散斑大小的數(shù)學(xué)關(guān)系,并通過對不同尺寸星點(diǎn)光源、不同像質(zhì)光學(xué)系統(tǒng)的仿真分析,得出星點(diǎn)檢測法的檢測精度與星點(diǎn)孔直徑有關(guān),而與鏡頭本身成像品質(zhì)無關(guān).
作 者: 李妥妥 蘇云 蘭麗艷 Li Tuotuo Su Yun Lan Liyan 作者單位: 北京空間機(jī)電研究所,北京,100076 刊 名: 航天返回與遙感 英文刊名: SPACECRAFT RECOVERY & REMOTE SENSING 年,卷(期): 2008 29(4) 分類號: V4 關(guān)鍵詞: 彌散斑 星點(diǎn)檢驗(yàn) 數(shù)據(jù)處理 低溫光學(xué) 紅外鏡頭 空間環(huán)境模擬【低溫紅外鏡頭星點(diǎn)檢測數(shù)據(jù)處理方法研究】相關(guān)文章:
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