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電子封裝用Sip/Al復合材料的熱物理性能研究
采用擠壓鑄造法制備了Sip/Al復合材料.材料組織致密,增強體顆粒分布均勻.熱物理性能研究表明,復合材料的熱導率大于90 W/(m·K),線膨脹系數(shù)可在(7.48~9.99)×10-6/K范圍內(nèi)調(diào)整.增加基體合金中的Si含量有利于降低材料的線膨脹系數(shù),但同時也會使熱導率降低.對復合材料進行退火處理可有效降低其線膨脹系數(shù),提高熱導率.Sip/Al復合材料作為新型環(huán)保復合材料已經(jīng)基本滿足電子封裝高導熱、低膨脹的使用要求.
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