磁性薄膜電磁參數(shù)測(cè)試技術(shù)

扼要介紹了近15年國(guó)內(nèi)外在磁性薄膜材料電磁參數(shù)測(cè)試方法的概況及技術(shù)特點(diǎn),這些方法主要包括帶狀線法、微帶線法、波導(dǎo)法及共面波導(dǎo)法、終端阻抗及短路法和諧振腔法.

作 者： 陳雪飛 郭高鳳 周揚(yáng) 李恩   作者單位： 電子科技大學(xué)電子工程學(xué)院,成都,611731  刊 名： 宇航材料工藝  ISTIC PKU 英文刊名： AEROSPACE MATERIALS & TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2010 40(2)  分類號(hào)： V2  關(guān)鍵詞： 磁性薄膜   電磁參數(shù)   網(wǎng)絡(luò)參數(shù)法   諧振腔法   Magnetic thin film   Electromagnetic parameters   Network parameter method   Resonant cavity method  

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