面粉中滑石粉的X射線檢驗(yàn)法

采用X-射線衍射分析法檢測(cè)面粉中滑石粉等有害物質(zhì),是利用礦物質(zhì)與面粉的分子結(jié)構(gòu)不同的特點(diǎn),利用X射線衍射法快速確定面粉中含有的礦物質(zhì)結(jié)構(gòu),直接檢測(cè)滑石粉等有害物質(zhì)結(jié)構(gòu).此方法具有快速、直接、準(zhǔn)確的特點(diǎn),有利于對(duì)大批量面粉中滑石粉等有害物質(zhì)的快速檢測(cè).

作 者： 由健 劉成雁 林雪征   作者單位： 遼寧省分析科學(xué)研究院,遼寧·沈陽(yáng),110015  刊 名： 科協(xié)論壇(下半月)  英文刊名： SCIENCE & TECHNOLOGY ASSOCIATION FORUM  年，卷(期)： 2009 ""(1)  分類號(hào)： Q81  關(guān)鍵詞： X-射線衍射   面粉   滑石粉  

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