鎢酸鉛晶體中痕量雜質(zhì)元素的分布特征及其對晶體性能的影響

利用GDMS分別測試了用Bridgman方法生長的十個全尺寸鎢酸鉛晶體頂、底兩端的雜質(zhì)含量,發(fā)現(xiàn)在PWO晶體中,K、Na、Mo、As、Y等雜質(zhì)元素富集于晶體的頂部,具有分凝系數(shù)小于1 的特征.Ca和Ba雜質(zhì)則富集于晶體的底部,具有分凝系數(shù)大于1 的特征,Al、Si、Cu等雜質(zhì)的分布缺乏明顯的規(guī)律性.這些雜質(zhì)主要來源于生長晶體時所使用的WO3原料.根據(jù)摻雜實驗,認為K、Na、Mo、As等是影響PWO閃爍性能的有害雜質(zhì),Ca和Ba是無害雜質(zhì),Y是有益雜質(zhì),Al、Si、Cu等雜質(zhì)的行為尚不明確.

作 者： 任國浩 沈定中 王紹華 倪海洪 蔡曉琳   作者單位： 中國科學院上海硅酸鹽研究所,上海,201800  刊 名： 人工晶體學報  ISTIC EI PKU 英文刊名： JOURNAL OF SYNTHETIC CRYSTALS  年，卷(期)： 2002 31(5)  分類號： O73  關(guān)鍵詞： 鎢酸鉛   雜質(zhì)   分布   效應  

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