V2O5復(fù)合薄膜材料的電子結(jié)構(gòu)研究

采用自洽場離散變分Xα方法對純V2O5及V2O5復(fù)合薄膜不同狀態(tài)的O1s及V2p軌道電子結(jié)合能和鍵強度等進(jìn)行了研究. 結(jié)果表明, V2O5結(jié)構(gòu)中存在4種狀態(tài)的氧和3種狀態(tài)的釩, 聚合物(PEO)或聚合物(PEO)-Li+嵌入V2O5結(jié)構(gòu)主要存在于層間的位置, 與雙鍵氧產(chǎn)生弱的鍵合作用, 導(dǎo)致雙鍵氧與五價釩的含量降低, 三鍵氧與三價、四價釩的含量增加;純V2O5層間嵌入的Li+與周圍氧的共價鍵與靜電力都非常明顯, V2O5層間引入PEO后再嵌入Li+, Li+與周圍氧的共價鍵與靜電力都變的非常微弱, 說明PEO嵌入V2O5層間使Li+具有很好的注入/脫出可逆性.

作 者： 周靜 陳文 徐慶 閔新民   作者單位： 周靜(武漢理工大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院,武漢,430070)

陳文,徐慶(武漢理工大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院,武漢,430070;武漢理工大學(xué)材料復(fù)合新技術(shù)國家重點實驗室,武漢,430070)

閔新民(武漢理工大學(xué)材料復(fù)合新技術(shù)國家重點實驗室,武漢,430070) 

刊 名： 硅酸鹽學(xué)報  ISTIC EI PKU 英文刊名： JOURNAL OF THE CHINESE CERAMIC SOCIETY  年，卷(期)： 2002 30(2)  分類號： O641  關(guān)鍵詞： 五氧化二釩   復(fù)合薄膜   結(jié)合能   鍵強度   電子結(jié)構(gòu)  

【V2O5復(fù)合薄膜材料的電子結(jié)構(gòu)研究】相關(guān)文章：

With的復(fù)合結(jié)構(gòu)作獨立主格05-04

農(nóng)用薄膜專項檢查總結(jié)范文08-17

想復(fù)合的句子02-02

復(fù)合句05-04

課題研究工作匯報材料04-25

分手又復(fù)合的珍惜句子12-15

鋼結(jié)構(gòu)材料合同范本（通用5篇）01-16

2012上海材料研究所碩士研究生招生簡章04-28

大數(shù)據(jù)環(huán)境下的電子商務(wù)安全研究論文12-14

文章的結(jié)構(gòu)03-13