XAFS在凝聚態(tài)物質(zhì)研究中的應(yīng)用

詳細(xì)介紹了X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜學(xué)(XAFS)的理論、數(shù)據(jù)分析及實(shí)驗(yàn)等基本原理,以及XAFS在薄膜、納米結(jié)構(gòu)和體相材料(包括半導(dǎo)體、合金以及復(fù)雜氧化物)等凝聚態(tài)物質(zhì)研究中的應(yīng)用;同時,還介紹了原位XAFS、微區(qū)XAFS和時間分辨XAFS等新的實(shí)驗(yàn)方法,并對該方法的應(yīng)用前景進(jìn)行了展望.

作 者： 韋世強(qiáng) 孫治湖 潘志云 閆文盛 鐘文杰 賀博 謝治 韋正 WEI Shi-qiang SUN Zhi-hu PAN Zhi-yun YAN Wen-sheng ZHONG Wen-jie HE Bo XIE Zhi WEI Zheng   作者單位： 中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)國家同步輻射實(shí)驗(yàn)室,安徽合肥,230029  刊 名： 中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)學(xué)報  ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY OF CHINA  年，卷(期)： 2007 37(4)  分類號： O722  關(guān)鍵詞： 同步輻射   XAFS   原子和電子結(jié)構(gòu)   納米結(jié)構(gòu)   凝聚態(tài)物質(zhì)  

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