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高溫下金屬薄膜生長初期的模擬研究
采用實際的生長模型和物理參量,用Monte Carlo方法對高溫下金屬薄膜的生長過程進行了模擬研究.綜合考慮了原子沉積、擴散、成核、生長和擴散原子的再蒸發(fā)、原子沿島周界擴散和島的合并等眾多過程后,模擬得到與實驗結(jié)果相當(dāng)一致的薄膜生長形貌及其相應(yīng)的定量結(jié)果.通過動態(tài)統(tǒng)計薄膜生長過程中的島數(shù)目及薄膜生長率,得到實驗中不易直接獲得的高溫下薄膜生長的許多細(xì)節(jié),如島數(shù)目和薄膜生長率隨表面溫度、覆蓋度變化的詳細(xì)情況等.
作 者: 吳鋒民 施建青 吳自勤 作者單位: 吳鋒民(浙江工業(yè)大學(xué)科學(xué)研究中心;浙江工業(yè)大學(xué)應(yīng)用物理系)施建青(浙江工業(yè)大學(xué)應(yīng)用物理系,)
吳自勤(中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)天文與應(yīng)用物理系,)
刊 名: 物理學(xué)報 ISTIC SCI PKU 英文刊名: ACTA PHYSICA SINICA 年,卷(期): 2001 50(8) 分類號: O484 關(guān)鍵詞: 薄膜 MonteCarlo模擬 成核 島密度 薄膜生長率【高溫下金屬薄膜生長初期的模擬研究】相關(guān)文章:
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