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Nd∶YAG激光晶體單程損耗的研究
本文對(duì)導(dǎo)致Nd∶YAG激光晶體單程損耗的原因進(jìn)行了分析,并建立了一套精確測(cè)量Nd∶YAG激光晶體單程損耗系數(shù)的測(cè)試系統(tǒng).選用了與以往測(cè)量損耗系數(shù)方法不同的測(cè)試思路.通過該系統(tǒng)可直接測(cè)量激光工作波長(zhǎng)單次通過Nd∶YAG 晶體時(shí)所引起的光損耗.文中對(duì)測(cè)試物理過程及數(shù)學(xué)模型的建立進(jìn)行了闡述,并分析了端面反射率對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響;研究了各種生長(zhǎng)缺陷對(duì)激光工作波長(zhǎng)所造成的損耗;討論了測(cè)試不同通光面晶體損耗的方法;并實(shí)現(xiàn)了計(jì)算機(jī)全過程的自動(dòng)數(shù)據(jù)采集及處理.
作 者: 朱建慧 徐學(xué)珍 姚廣濤 張韶光 作者單位: 北京奧依特科技有限公司,北京,100015 刊 名: 人工晶體學(xué)報(bào) ISTIC EI PKU 英文刊名: JOURNAL OF SYNTHETIC CRYSTALS 年,卷(期): 2002 31(6) 分類號(hào): O734 關(guān)鍵詞: Nd∶YAG 單程損耗 生長(zhǎng)缺陷 雙光路測(cè)量 端面反射率【Nd∶YAG激光晶體單程損耗的研究】相關(guān)文章:
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