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衍射光學(xué)束勻滑器件性能的空間頻譜分析
采用空間頻譜方法分析了衍射光學(xué)束勻滑器件的焦面光強(qiáng)分布,重新定義了光能利用率及頂部不均勻性兩個(gè)參數(shù),由于其定義的溯源性,能夠真實(shí)準(zhǔn)確地評(píng)價(jià)束勻滑器件的設(shè)計(jì)性能.最后,采用這兩個(gè)參數(shù)對(duì)精細(xì)化設(shè)計(jì)前后的衍射光學(xué)束勻滑器件性能進(jìn)行了對(duì)比,結(jié)果證明了精細(xì)化設(shè)計(jì)的有效性.
作 者: 譚峭峰 嚴(yán)瑛白 金國藩 鄔敏賢 徐端頤 作者單位: 清華大學(xué)精密測試技術(shù)與儀器國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,北京,100084 刊 名: 中國激光 ISTIC EI PKU 英文刊名: CHINESE JOURNAL OF LASERS 年,卷(期): 2002 29(8) 分類號(hào): O436.1 關(guān)鍵詞: 空間頻譜 衍射光學(xué)器件 束勻滑 精細(xì)化設(shè)計(jì)【衍射光學(xué)束勻滑器件性能的空間頻譜分析】相關(guān)文章:
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