電子儲存環(huán)中閉合軌道和色散函數(shù)的校正

電子儲存環(huán)中,由磁鐵元件制造誤差和安裝誤差導(dǎo)致的閉合軌道和色散函數(shù)的畸變,通常會引起一系列的負(fù)面效應(yīng).介紹了以合肥光源儲存環(huán)為模型,用響應(yīng)矩陣的奇值分解法對閉合軌道和色散函數(shù)進行校正的可行性研究結(jié)果.

作 者： 李永軍 王琳 馮光耀 孫葆根 徐宏亮 李為民 劉祖平   作者單位： 中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)國家同步輻射實驗室,合肥,230029  刊 名： 高能物理與核物理  ISTIC SCI PKU 英文刊名： HIGH ENERGY PHYSICS AND NUCLEAR PHYSICS  年，卷(期)： 2003 27(8)  分類號： O4  關(guān)鍵詞： 電子儲存環(huán)   閉合軌道   色散函數(shù)   響應(yīng)矩陣   矩陣奇值分解   基于束流的準(zhǔn)直  

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