小角x射線散射方法研究甲基改性氧化硅干凝膠的孔結構

以正硅酸乙酯[Si(OC2H5)4,TEOS]為前驅體制備SiO2懸浮液,分別以甲基三乙氧基硅烷[CH3Si(OC2H5)3,MTES]和二甲基二乙氧基硅烷[(CH3)2Si(OC2H5)2,DDS]為前驅體制備硅氧烷聚合物溶液,通過混合法得到兩種不同的甲基改性氧化硅凝膠.測量了凝膠的散射強度,計算了凝膠的孔徑分布、平均孔徑DSAXS、界面層厚度E等參數(shù),結合氮氣吸附實驗,分析了凝膠的孔結構.發(fā)現(xiàn)SiO2一次簇團被MTES聚合物或DDS聚合物連接為二次簇團時產生微孔,同時甲基隨聚合物連接于凝膠骨架上形成與孔隙的界面層,界面層的存在對孔徑和氣體在孔內的吸附均有影響.輔以透射電子顯微鏡觀測,證實MTES和DDS對凝膠的孔結構有很大影響.實驗證明,用小角x射線散射技術研究甲基-凝膠孔結構是獲得凝膠微觀結構的有力工具.

作 者： 徐耀 李志宏 范文浩 吳東 孫予罕 王俊 董寶中   作者單位： 徐耀,李志宏,范文浩,吳東,孫予罕(中國科學院山西煤炭化學研究所煤轉化國家重點實驗室,太原,030001)

王俊,董寶中(中國科學院高能物理研究所同步輻射實驗室,北京,100039) 

刊 名： 物理學報  ISTIC SCI PKU 英文刊名： ACTA PHYSICA SINICA  年，卷(期)： 2003 52(3)  分類號： O4  關鍵詞： 小角x射線散射   甲基改性氧化硅   干凝膠   孔結構  

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