陰離子交換樹脂分離甲苯萃取ICP-AES測定鉍系超導(dǎo)粉中的痕量鎳

摘要：建立了ICP-AES測定超導(dǎo)粉中痕量鎳的新方法.優(yōu)化了儀器工作參數(shù),對超導(dǎo)前驅(qū)粉中痕量鎳測定時的基體干擾及干擾消除方法進行了系統(tǒng)研究,結(jié)果表明:大量存在的基體元素產(chǎn)生嚴重基體效應(yīng),導(dǎo)致測定重現(xiàn)性及準(zhǔn)確度變差,實驗采用分離富集方法以提高測定結(jié)果的準(zhǔn)確度和精密度.實驗中首先用陰離子交換樹脂,除去Bi3+及部分pb2+,Sr2+,Ca2+,Cu2十等基體元素；在堿性條件下再通過甲苯萃取鎳與丁二酮肟的絡(luò)合物、稀鹽酸反萃取富集鎳；對分離富集條件進行了優(yōu)化.對模擬標(biāo)準(zhǔn)樣品進行測定,分析結(jié)果與理論值一致,相對標(biāo)準(zhǔn)偏差為1.9％,方法檢出限為0.19 μg·g-1.該方法已用于超導(dǎo)前驅(qū)粉樣品中痕量鎳的分析,結(jié)果令人滿意. 作者： 范麗新[1]  李建強[1]  范慧俐[1]  孫建伶[1]  張霞[1]  包蕊[2]  陸青[1]  王杰[1] Author： FAN Li-xin[1]  LI Jian-qiang[1]  FAN Hui-li[1]  SUN Jian-ling[1]  ZHANG Xia[1]  BAO Rui[2]  LU Qing[1]  WANG Jie[1] 作者單位： 北京科技大學(xué)化學(xué)系,北京,100083北京英納超導(dǎo)技術(shù)有限公司,北京,100176 期 刊： 光譜學(xué)與光譜分析   ISTICEISCIPKU Journal： Spectroscopy and Spectral Analysis 年，卷(期)： 2011, 31(12) 分類號： O657.3 關(guān)鍵詞： 鎳    ICP-AES    超導(dǎo)粉    甲苯萃取    陰離子交換樹脂    機標(biāo)分類號： O65 O61 機標(biāo)關(guān)鍵詞： 陰離子交換樹脂    樹脂分離    苯萃取    ICP-AES    測定結(jié)果    鉍系    超導(dǎo)粉    痕量鎳    Anion Exchange Resin    Atomic Emission Spectroscopy    Inductively Coupled Plasma    分離富集方法    超導(dǎo)前驅(qū)粉    分析結(jié)果    基體元素    準(zhǔn)確度    相對標(biāo)準(zhǔn)偏差    方法檢出限    優(yōu)化    標(biāo)準(zhǔn)樣品 基金項目： 國家(863計劃)項目 陰離子交換樹脂分離甲苯萃取ICP-AES測定鉍系超導(dǎo)粉中的痕量鎳[期刊論文]  光譜學(xué)與光譜分析 --2011, 31(12)范麗新  李建強  范慧俐  孫建伶  張霞  包蕊  陸青  王杰建立了ICP-AES測定超導(dǎo)粉中痕量鎳的新方法.優(yōu)化了儀器工作參數(shù),對超導(dǎo)前驅(qū)粉中痕量鎳測定時的基體干擾及干擾消除方法進行了系統(tǒng)研究,結(jié)果表明:大量存在的基體元素產(chǎn)生嚴重基體效應(yīng),導(dǎo)致測定重現(xiàn)性及準(zhǔn)確度變差,實驗采...

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