安捷倫科技推出世界最低價(jià)位的晶圓篩檢及測(cè)試解決方案

安捷倫科技(Agilent Technologies)近日宣布推出全新自動(dòng)化測(cè)試解決方案,可進(jìn)行原速(At-speed)的功能測(cè)試,將高速、單芯片系統(tǒng)(SOC)組件的測(cè)試成本降到業(yè)界最低.

作 者：   作者單位：   刊 名： 半導(dǎo)體技術(shù)  ISTIC PKU 英文刊名： SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2005 30(1)  分類(lèi)號(hào)：   關(guān)鍵詞：  

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